Electrical impedance spectroscopy as a new characterisation tool for the determination of electrical material parameters in semiconductors and insulators

Petr Viscor, Jan Vedde, Michael Jensen

    Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningpeer review

    OriginalsprogEngelsk
    TidsskriftSolid State Phenomena
    Vol/bind69-70
    Sider (fra-til)479-484
    ISSN1012-0394
    StatusUdgivet - 1999

    Citer dette